高速Wafer AOI瑕疵檢測及AI瑕疵分類系統
✓ 高速飛拍、晶圓正背面同時檢測
✓ 多組光源可針對瑕疵特徵提供不同類型光源增加瑕疵檢出能力
✓ 適用4~12”晶圓檢測或CIS、玻璃基板coating 瑕疵檢測
✓ 可搭配AI系統進行瑕疵分類
✓ 選配IDAS(Inspection Data Analysis System)數據統計分析
✓ 軟體協助製程優化
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攝像頭模組高速AA系統
✓ 雙AA系統，可選擇Lens或Sensor為基準
✓ 可選擇Collimator或Relay出廠設置
✓ 高速精準六軸AA模組
✓ 全自動上下料系統
✓ 等離子電漿清潔系統
✓ 黑白場影像測試系統
✓ NST高速六軸影像辨識系統
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車用攝像頭模組整線自動化方案
✓ 清洗、AA、烤箱、影像檢查、氣密測試、燒機測試整線自動化方案
✓ 可視產線需求情況提供配置建議
✓ 適用廣角車用攝像頭模組或廣角IP CAM組裝測試
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结合影像、通讯、UI、视觉算法与机电控制整合的NTS 影像测试系统，具备强大而完整的视觉、光学测试软体，依照设备需要的测试项目与参数提供高度的客制化弹性与系统共容性。

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