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NST AI自動欠陥分類システム

  • NST AI ADCは、人工知能（AI）技術を活用して開発された製品であり、半導体製造プロセスにおける製品の欠陥を自動で分類することで、生産効率および製品品質の向上を支援します。
  • ADCシステムは、欠陥の分類を自動で完了させることができ、従来の目視検査や判定にかかる時間とコストを大幅に削減します。
  • 分類レポート：
    本システムは、欠陥の種類・数量・発生箇所などを詳細に記録した分類レポートを生成でき、生産ライン管理者が現場の状況を的確に把握することが可能です。
  • データの可視化：
    収集されたデータはグラフや図表として視覚的に表示されるため、管理者は欠陥の発生傾向、種類、発生率などの情報を迅速に理解することができます。
  • 自動欠陥分類の分析結果を通じて、エンジニアは製造プロセス上の問題点を特定し、プロセスパラメータを最適化することで、欠陥発生のリスクを低減し、製品の歩留まりを向上させることが可能です。
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