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IDAS

  • LOT分析：Inspection map date 整合(座標、疊圖與檢出照片)
  • 製程分析：Inspection機差比對、缺陷數量差異比對、 MAP缺陷分布分析
  • Graph功能：依照需求輸出圖表。
  • Tester data連結功能：點測Data與AOI MAP比對分析
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