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晶圓 2D+3D 檢測/量測系統

  • 高速3D Full Bump高度量測Bump Diameter、Bump Height
  • 3D多功能量測系統、可支援高深寬比產品(AR 1:7) μBump tall pillar 3D量測
  • 操作便利的多樣工程分析可視化形貌圖(等高圖、輪廓圖、3D形貌圖)
  • 自動切換多倍率顯微檢測系統
  • 奈米級自動對焦系統(Auto Focus System)
  • 大尺寸晶片對位系統(Multi-View)
  • Recipe 離線編輯功能
  • Multi-Thread影像比較式演算系統
  • 視覺量測系統,以影像量測方式檢測各關鍵尺寸
  • Import CAD節省Recipe建立時間
  • 自動校正及巡檢系統
  • 客製化報表輸出
  • 快速上下料(<10sec)
  • 可檢瑕疵(Residue、Particle、Damage、Open / Short、Scratch)

 

選配功能:

  • OCR Function
  • ReView 復判系統
  • EDC Function
  • Real Time Process Status Display
  • SECS/GEM Compatible
  • SEMI S2 認證
  • High Warpage解決方案